GDUD-PBI絕緣子及套管超聲波探傷儀，內(nèi)置了爬波探傷、縱波小角度探傷和橫波探傷三種模式，供廣大用戶隨意選擇或搭配使用。
國電西高GDUD-PBI絕緣子及套管超聲波探傷儀
準(zhǔn)備工作：
（1）工作儀器：GDUD-PBI絕緣子及套管超聲波探傷儀
（2）試塊：JYZ-BX校準(zhǔn)試塊、參考試塊
（3）探頭：
1）法蘭膠裝區(qū)支柱瓷絕緣子及瓷套表面和近表面缺陷的檢測采用
并聯(lián)式爬波雙晶探頭：2。5MHz10mm×12mm雙晶、移動范圍較小時采用8mm×10mm或
6mm×10mm，弧面選擇Φ120、Φ160、Φ200
2）支柱瓷絕緣子內(nèi)部和對稱側(cè)采用
縱波小角度探頭：5MHz8mm×10mm入射角度為6°，弧面選擇Φ120、Φ160、Φ200等
3）瓷套內(nèi)部和內(nèi)壁檢測采用
雙晶橫波斜探頭：5MHz8mm×10mm雙晶，折射角度35o~37o，弧面選擇Φ160、Φ200
（4）其他：C6~Q9雙晶探頭線，C6~Q9單晶探頭線
（5）爬波或橫波檢測時儀器與探頭連接方式：探頭為雙晶探頭，連接時應(yīng)保證將儀器的發(fā)射端與探頭發(fā)射端對應(yīng)連接，儀器的接受端與探頭的接受端對應(yīng)連接。
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